4200A-SCS. Система измерения параметров полупроводников
- Общие данные 4200A-SCS
- Технические характеристики 4200A-SCS
- Комплектность 4200A-SCS
- Дополнительные материалы
- Примечание
Общие данные 4200A-SCS
Программное обеспечение 4200A-SCS ClariusTM с графическим интерфейсом обеспечивает четкие, бескомпромиссные возможности измерения и анализа. Программное обеспечение Clarius, оснащенное экспертизой встроенных измерений и сотнями готовых к применению прикладных тестов, позволяет вам быстрее и увереннее углубиться в свои исследования. Анализатор параметров 4200A-SCS полностью настраиваемый и полностью обновляемый, поэтому вы можете добавлять необходимые вам инструменты сейчас или позже. Благодаря анализатору параметров 4200A-SCS подключение к вашим смелым открытиям стало еще проще.
Технические характеристики 4200A-SCS
Диапазон тока | Макс.напряжение | Разрешение (измерение) | Точность измерения ±(% от шкалы + А) | Разрешение (генерация) | Точность генерации ±(% от шкалы + А) | |
Технические характеристики измерительных модулей | ||||||
4210-SMU | 1 А | 21 В | 1 мкА | 0,100% + 200 мкА | 50 мкА | 0,100% + 350 мкА |
100 мА | 210 В | 50 нА | 0,045% + 3 мкА | 5 мкА | 0,050% + 15 мкА | |
4200-SMU и 4210-SMU | 100 мА | 21 В | 50 нА | 0,045% + 3 мкА | 5 мкА | 0,050% + 15 мкА |
10 мА | 210 В | 5 нА | 0,037% + 300 нА | 500 нА | 0,042% + 1,5 мкА | |
1 мА | 210 В | 500 пА | 0,035% + 30 н | 50 нА | 0,040% + 150 нА | |
100 мкА | 210 В | 50 пА | 0,033% + 3 нА | 5 нА | 0,038% + 15 нА | |
10 мкА | 210 В | 5 пА | 0,050% + 600 пА | 500 пА | 0,060% + 1,5 нА | |
1 мкА | 210 В | 500 фА | 0,050% + 100 пА | 50 пА | 0,060% + 200 пА | |
100 нА | 210 В | 50 фА | 0,050% + 30 пА | 5 пА | 0,050% + 30 пА | |
4200-SMU и 4210-SMU с опцией 4200-PA | 10 нА | 210 В | 5 фА | 0,050% + 1 пА | 500 фА | 0,060% + 3 пА |
1 нА | 210 В | 1 фА | 0,050% + 100 фА | 50 фА | 0,060% + 300 фА | |
100 пА | 210 В | 300 аА | 0,100% + 30 фА | 15 фА | 0,100% + 80 фА | |
10 пА | 210 В | 100 аА | 0,050% + 15 фА | 5 фА | 0,500% + 50 фА | |
1 пА | 210 В | 10 аА | 1,000% + 30 фА | 1,5 фА | 1,000% + 40 фА |
Диапазон напряжения | Диапазон тока | Разрешение (измерение) | Точность измерения ±(% от шкалы + А) | Разрешение (генерация) | Точность генерации ±(% от шкалы + А) | |
4200-SMU | 4210-SMU | |||||
200 В | 10,5 мА | 105 мА | 200 мкВ | 0,015% + 3 мВ | 5 мВ | 0,02% + 15 мВ |
20 В | 105 мА | 1,05 А | 20 мкВ | 0,01% + 1 мВ | 500 мкВ | 0,02% + 1,5 мВ |
2 В | 105 мА | 1,05 А | 2 мкВ | 0,012% + 150 мкВ | 50 мкВ | 0,02% + 300 мкВ |
200 мВ | 105 мА | 1,05 А | 0,2 мкВ | 0,012% + 100 мкВ | 5 мкВ | 0,02% + 150 мкВ |
CV- метрия. Измерение вольт-фарадных характеристик | |||
Частота | Измеряемая емкость | С точность | G точность |
10 МГц | 1 пФ | ±0,92% | ±590 нс |
10 пФ | ±0,32% | ±1,8 мкс | |
100 пФ | ±0,29% | ±17 мкс | |
1 нФ | ±0,35% | ±99 мкс | |
1 МГц | 1 пФ | ±1,17% | ±64 нс |
10 пФ | ±0,19% | ±65 нс | |
100 пФ | ±0,10% | ±610 нс | |
1 нФ | ±0,09% | ±4 мкс | |
100 кГц | 10 пФ | ±0,31% | ±28 нс |
100 пФ | ±0,18% | ±59 нс | |
1 мкФ | ±0,10% | ±450 нс | |
10 нФ | ±0,10% | ±3 мкс | |
10 кГц | 100 пФ | ±0,31% | ±15 нс |
1 нФ | ±0,15% | ±66 нс | |
10 нФ | ±0,08% | ±450 нс | |
100 нФ | ±0,10% | ±3 мкс | |
1 кГц | 1 нФ | ±0,82% | ±40 нс |
10 нФ | ±0,40% | ±120 нс | |
100 нФ | ±0,10% | ±500 нс | |
1 мкФ | ±0,15% | ±10 мкс |
Комплектность 4200A-SCS
№ | Наименование | Количество |
1 | Базовый блок параметрического анализатора 4200A-SCS | 1 |
2 | Руководство по эксплуатации | 1 |
Дополнительные материалы
Примечание
Цена на изделие "4200A-SCS. Система измерения параметров полупроводников." приведена как справочная информация, не является публичной офертой, определяемой положениями статьи 437 Гражданского кодекса Российской Федерации и может быть изменена в любое время без предупреждения. Наличие на складе или предполагаемый срок поставки позиции "4200A-SCS. Система измерения параметров полупроводников." уточняйте у менеджеров отдела продаж по телефонам: +7 (4912) 24-59-59, 24-59-58, 24-59-57 или по e-mail: jais@jais.ru.